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熱分析產品

變溫顯微測試系統（MMS）變溫光纖光譜測試系統（OMS）變溫電阻測試系統（RMS）變溫拉伸測試系統（SMS）介電溫譜測試系統（DMS）霍爾效應測試儀（HEM）塞貝克系數測試儀（CCM）器件質檢儀（TEAM）

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變溫顯微測試系統
重光變溫顯微測試系統是一套聯用其他顯微結構表征技術的冷熱臺型顯微系統，適用于物相及其微結構分析。在超長的物鏡、高精度、高靈敏溫度控制和高質量的成像技術的加持下，MMS擁有更強大的樣...

時間：2023-12-29型號：MMS訪問量：400

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變溫光纖光譜測試系統
重光變溫光纖光譜測試系統可以用于材料變溫的光學透射或反射測量，也可以用于樣品被紫外線或X射線激發后的光學測量。具體可應用于可見VIS光譜波段的變溫測量、化學物質吸光度測量、高精度的...

時間：2023-12-29型號：OMS訪問量：428

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變溫電阻測試系統
變溫電阻測試系統（RMS）采用四探針法技術，具備檢測材料電阻率的能力?？捎糜跍y量半導體塊狀樣品、半金屬樣品（康銅、鎳、鉍等）以及部分非金屬樣品（石墨、碳材料等）的電阻率。廣泛應用于...

時間：2023-12-29型號：RMS訪問量：1236

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變溫拉伸測試系統
變溫拉伸測試系統（SMS）廣泛應用于科研領域的材料力學性能研究，可以用于各種金屬材料、無機材料和高分子等材料的拉伸、壓縮和扭轉等力學試驗。是研究材料變溫力學性能，特別是低溫情況下力...

時間：2023-12-29型號：SMS訪問量：512

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介電溫譜測試系統
重光變溫介電測試系統是用于研究材料介電性能研究的測試系統。電介質是指在電場作用下能夠被電極化的絕緣體，通常使用相對介電常數和介質損耗來表征電介質的介電性能。為了研究電介質的介電性能...

時間：2023-12-29型號：DMS訪問量：494

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霍爾效應測試儀（HEM）
可用于一般半導體材料的霍爾系數、電阻率、電子遷移率、載流子濃度的常溫測量，是研究半導體和電子材料的電子特性的重要工具。

時間：2023-6-14型號：HEM訪問量：544

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塞貝克系數測試儀（CCM）
可用于一般熱電材料的SEEBECK系數常溫測量，半導體制冷片的ZT值和電阻值測量，是熱電材料和器件研究生產的重要工具。

時間：2023-6-14型號：CCM訪問量：684

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輻射制冷測量系統（PDRC）
PDRC可用于測量材料的輻射制冷功率，并對不同材料絕熱條件下的輻射降溫性能進行對比。其溫控功能可使目標溫度跟隨環境溫度，同時記錄加熱功率和太陽光輻射功率。在建筑材料和太空中輻射制冷...

時間：2023-6-14型號：PDRC訪問量：684

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